Andor发布近红外CCD iKon-M PV Inspector

2016-04-28新闻资讯

Andor发布近红外Zui优化CCD iKon-M PV Inspector,用于太阳能电池缺陷检测

在低光成像和显微系统方面一直处于全球领先的Andor公司今天宣布将发布一款CCD—— iKon-M PV Inspector,一个专用的摄像头,为光致/电致发光成像方法检测中提高速度和灵敏度而设计的。

                 

背照式CCD,1024X1024像素,超高灵敏度800nm量子效率(QE)达90%,同时结合了Fringe Suppression TechnologyTM技术以降低在近红外区域的散光现象。工业高通量的Zui大读出速率可达55MHz,结合独一无二的双曝光环模式使得两个曝光时间的转换非常迅速,不会浪费时间。

PV Inspector可以冷却到-70 °C来降低暗电流。Andor’s认证的UltravacTM真空密闭加工可以完全保护曝光感应器的表面,增加其持续冷却的能力和寿命。可锁定的USB界面保证安全,防震动。摄像头可以自动冷却,使用MVTec软件。

Andor Technology 的产品经理Dr Colin Coates说:“PV Inspector高级的、强的使用性能是随着光电检测市场的需求应运而生的。增强的近红外敏感性和独一无二的高速模式使双曝光的EL检测速度能够每秒检测一个电池,非常适用于高通量的PV电池的检测系统。”